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發(fā)布時間: 2024-08-12
產品型號: GDAT-C
廠商性質: 生產廠家
所 在 地: 北京市海淀區(qū)上地科技園上地十街1號
產品特點: 高頻介質損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置(夾具)、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,它依據(jù)國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的Z佳解決方案。
高頻介質損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置(夾具)、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,它依據(jù)國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的*解決方案。
介電常數(shù)測試儀BH916測試裝置GDAT高頻Q表
平板電容極片Φ50mm/Φ38mm 可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調范圍≥15mm 頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm 主電容調節(jié)范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm 主調電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 (1MHz) Q測試范圍2~1023
北京北廣精儀儀器設備有限有限公司
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聯(lián) 系 人:李叢林
地 址:北京市海淀區(qū)建材城西路50號
公司:http://www.beiguangjy.com
介電常數(shù)測試儀《BH916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統(tǒng)的核心檢測部件,它由一個LCD數(shù)字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化,測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。BH916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產品,精密的加工設計、精確的LCD數(shù)字讀出、一鍵式清零功能,克服了機械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 1 0μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz 233 0.9 0.125μH
50MHz 211